Currículo
Modelos de Risco MR
Contextos
Groupo: Ciências Actuariais > 2º Ciclo > Parte Escolar > Unidades Curriculares Obrigatórias
ECTS
6.0 (para cálculo da média)
Objectivos
Ao concluir a unidade curricular com sucesso espera-se que o aluno esteja apto para: - Utilizar as metodologias estatísticas adequadas para, com base numa amostra aleatória, estimar modelos de sobrevivência, modelos para a frequências e a severidade dos sinistros; - Entender as hipóteses estatísticas inerentes a cada uma das metodologias utilizadas; - Reconhecer as metodologias e hipóteses adequadas para resolver cada problema.
Programa
1. REVISÃO DE CONCEITOS ESTATÍSTICOS FUNDAMENTAIS: - Introdução; - Estimação por pontos com ênfase na análise das propriedades dos estimadores; - Estimação por intervalos; - Testes de hipóteses. 2. CONSTRUÇÃO DE MODELOS EMPÍRICOS: - Estimação com informação completa; - Estimação com informação distorcida. 3. INFERÊNCIA PARAMÉTRICA: - Estimação frequencista; - Introdução à estatística Bayesiana; - Seleção de Modelos. 4. INTRODUÇÃO À SIMULAÇÃO E AO BOOTSTRAP: - Simulação; - Bootstrap.
Método de Avaliação
Exame final.
Carga Horária
Carga Horária de Contacto -
Trabalho Autónomo - 114.5
Carga Total -
Bibliografia
Principal
- Loss Models ? From data to decisions: Klugman, S.A., Panjer, H.H. and Willmot, G.E. 2008 3rd Edition, John Wiley & Sons, Inc., New-Jersey.
- Bootstrap Methods and Permutation Tests: Hesterberg, T., Monaghan, S., Mooree, D.S., Clipson, A., Epstein, R. 2003 companion chapter 18 to The practice of Business Statistics by David S. Moore, MCCabe, Duckworth and Sclove.
Secundária
- Statistical Inference: Casella, G. and Berger, R. 2001 (Second Edition). Duxbury Press.
- An Introduction to the Bootstrap: Efron, B. and Tibshirami, R.J. 1993 Chapman & Hall, New-York.
- Simulation: Ross, S.M. 2002 3rd Edition, Academic Press.
- Applied Simulation Modeling: Seila, A., Ceric,V. and Tadikamalla,P. 2003 Duxbury Applied Serie
- All of Statistics: A Concise Course in Statistical Inference: Wasserman, L. 2004 New York: Springer.